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簡(jiǎn)要描述：快速溫度變化試驗(yàn)設(shè)備適用于各類電I電子產(chǎn)品及其他產(chǎn)品、零部件和材料進(jìn)行高低溫恒定和漸變、突變、 濕熱試驗(yàn)等環(huán)境模擬可靠性試驗(yàn)。
產(chǎn)品型號(hào)：LQ-KS-225廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家更新時(shí)間：2023-12-13訪 問(wèn) 量：1122快速溫度變化試驗(yàn)設(shè)備適用于各類電I電子產(chǎn)品及其他產(chǎn)品、零部件和材料進(jìn)行高低溫恒定和漸變、突變、 濕熱試驗(yàn)等環(huán)境模擬可靠性試驗(yàn)。
快速溫度變化試驗(yàn)箱將高溫和低溫以設(shè)定的時(shí)間頻率進(jìn)行切換，讓被檢測(cè)樣品能夠在溫度快速變化的情況下運(yùn)行，檢測(cè)樣品在快速溫變后發(fā)生的變化。而且有些產(chǎn)品在模擬的溫度變化的環(huán)境下,一些潛存在產(chǎn)品深處的問(wèn)題都會(huì)慢慢暴露出來(lái)，就比如材料問(wèn)題、制作工藝等。
快速溫度變化試驗(yàn)設(shè)備滿足標(biāo)準(zhǔn):
GB/T 10592-2008高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
GB/T 2423.1-2008低溫試驗(yàn)方法
GB/T 2423.1-2008高溫試驗(yàn)方法
GJB150.3A-2009高溫試驗(yàn)
GJB150.4A-2009低溫試驗(yàn)
GJN1032-1990環(huán)境應(yīng)力篩選方法
產(chǎn)品&規(guī)范 | 廠商名稱 | 高溫 | 低溫 | 溫變率 | 循環(huán)數(shù) | 循環(huán)時(shí)間 | 備注 |
MIL-STD-2164、GJB-1032-90 | —— | 工作極限溫度 | 工作極限溫度 | 5℃/min | 10～12 | 3h20min | —— |
MIL-344A-4-16 | 設(shè)備或系統(tǒng) | 71℃ | -54℃ | 5℃/min | 10 | —— | —— |
MIL-2164A-19 | —— | 工作極限溫度 | 工作極限溫度 | 10℃/min | 10 | —— | 駐留時(shí)間為內(nèi)部達(dá)到溫度10℃時(shí) |
NABMAT-9492 | 設(shè)備或系統(tǒng) | 55℃ | -53℃ | 15℃/min | 10 | —— | 駐留時(shí)間為內(nèi)部達(dá)到溫度5℃時(shí) |
GJB/Z34-5.1.6 | 組件 | 85℃ | -55℃ | 15℃/min | ≧25 | —— | 達(dá)到溫度穩(wěn)定的時(shí)間 |
GJB/Z34-5.1.6 | 設(shè)備或系統(tǒng) | 70℃ | -55℃ | 5℃/min | ≧10 | —— | 達(dá)到溫度穩(wěn)定的時(shí)間 |
筆記本電腦 | 主板廠商 | 85℃ | -40℃ | 15℃/min | —— | —— | —— |
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